摘要：某热熔塞密封性试验夹具首次使用,即出现夹具密封圈损伤导致的漏气现象。复查零件尺寸符合图纸要求,密封圈压缩率亦符合设计规范。通过结构分析,发现夹具存在倒角偏小引导不足缺陷,另密封圈压缩率尚有降低空间,因此采用增大零件倒角、缩减零件轴径的返修方案解决了密封圈切边问题。由此可见,密封圈的压缩率并非越大越好,而应根据实际情况;作为引导,零件倒角应尽可能选择小夹角、长线段。

摘要：介绍了一种用于测试高速增益单元嵌入式动态随机存储器的内建自测试方案。该方案包括了指令集设计和体系结构设计。四级指令流水线的引入使全速测试成为可能。该设计方案可以通过执行不同的测试指令,对待测存储器执行多种类型的测试,从而达到较高的故障覆盖率。该内建自测试模块被集成在了一个存储容量为8kb的增益单元嵌入式动态随机存储器芯片中,并在中芯国际0.13μm标准逻辑工艺下进行了流片验证。芯片测试结果表明,该内建自测试方案可以在多种测试模式下对待测存储器执行全速测试,提高了测试速度,降低了对自动测试设备的性能要求,提高了测试的效率。