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FPGA逻辑资源重配置测试技术研究: 收藏
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引用; 《固体电子学研究与进展》2011年第3期31卷 292-297页; 作者：张惠国徐彦峰曹正州于大鑫于宗光常熟理工学院物理与电子工程学院江苏常熟215500 中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214000; 针对FPGA的逻辑资源测试,提出了一种内建自测试方法。测试中逻辑资源划分为不同功能器件,对应各个功能器件设计了相应的BIST测试模板。在此基础上进一步利用FPGA的部分重配置性能优化BIST、测试过程,最终在统一的BIST测试框架下,采用相...; 针对FPGA的逻辑资源测试,提出了一种内建自测试方法。测试中逻辑资源划分为不同功能器件,对应各个功能器件设计了相应的BIST测试模板。在此基础上进一步利用FPGA的部分重配置性能优化BIST、测试过程,最终在统一的BIST测试框架下,采用相对较少的配置次数完成了逻辑资源固定故障的全覆盖测试。; 来源：详细信息评论

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