摘要：为了探究汉服版型在现代服装设计中应用的突破口,针对汉服版型设计尚未标准化的问题,运用文献研究法与实证研究法,结合人体工学和汉服的成衣特点,以汉服为研究对象,在原型法的基础上,通过对汉服款式结构变化的分析,探究适用于现代审美的汉服基型,形成一套独特的连身袖基型结构,在汉服设计中以连身袖基型来代替女装原型,使汉服纸样设计基型化、程式化、标准化,达到快速准确地进行传统及现代汉服设计的目的。进而运用CLO 3D软件对运用连身袖基型设计的服装进行合体性测试。得出,在连身袖基型的基础上可以进行多种连身袖服装的应用设计。

摘要：礼服是指在重大场合穿着的正式服装的统称,礼服的产生和演变与人们的生活方式息息相关,在这样的时代背景下,对礼服设计也提出了更高的要求,只有不断创新才能找到新的出路,为礼服设计注入新的内涵。TRIZ理论是基于知识的、面向人的、系统化的方法学,是一套通过发现问题、分析问题从而解决问题的创新理论。文中研究TRIZ理论中40条发明创造理论,并将其运用到礼服设计中,分析在进行礼服设计时可以应用到的TRIZ理论,提出适合礼服设计的创新方法,使礼服设计更加新颖、快捷,为设计者提供设计思路。

摘要：基于标准工艺线的设计加固是大规模集成电路抗辐射加固的发展趋势,对微纳米单元器件进行辐射效应参数提取是实现设计加固的前提。为了摒除参数提取过程中封装引入的影响,实现在线参数测试,本文设计了一套晶圆级器件辐照与辐射效应参数提取试验装置,兼备晶圆级器件电离总剂量辐照、器件参数在线测试分析功能,并且具有通用性强、测量范围宽、结构一体化、操作自动化等特点。对设备在50 kV管压下产生的X射线能谱、剂量率、束斑的测量以及对晶圆级MOS器件进行I-V、C-V、低频噪声特性的测试分析结果表明,该设备符合ASTM F1467测试标准,且能满足晶圆级器件辐射效应参数提取要求,可为大规模集成电路抗辐射设计加固提供良好的试验条件。

摘要：电荷耦合器件(CCD)辐射效应测试系统需具备通用性。通常情况下需要为每一种CCD设计一款测试电路,无法满足通用性要求,通用性电路的难点在于不同CCD要求不同的驱动通道数、驱动时序、信号占空比及工作点。提出了一种适用于多种CCD的测试电路设计方法。以现场可编程门阵列(FPGA)负责时序发生、工作点调节及整个系统的控制,驱动模块采用工作点可调的模式,并结合电荷泵技术,仅需更改FPGA设计及给驱动模块提供不同的工作点电压,便可使以上驱动参数可调,实现测试电路的通用性。采用该方法进行测试还可以适应CCD辐照后工作点的变化。最后通过正确驱动TCD1209线阵CCD和4096×96型TDI-CCD,并对TDI-CCD总剂量辐照实验进行正确的参数测试,验证了通用测试电路设计方法的可行性。