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检索条件"作者=何炜瑜"

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Cu(In，Ga)Se2太阳电池窗口层光学常数的测量与计算: 收藏
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引用; 《太阳能学报》2009年第2期30卷 141-144页; 作者：何炜瑜孙云李长健南开大学光电子薄膜器件与技术天津市重点实验室光电信息技术重点实验室(南开大学天津大学)天津300071; 采用多层薄膜反射率与透射率非相干叠加的方法,计算Cu(In,Ga)Se_2(CIGS)多晶薄膜太阳电池的窗口层(CdS薄膜和ZnO薄膜)的光学常数,并通过科希方程和塞尔迈耳方程对计算的折射率进行了拟合,给出了拟合公式,为CIGS多晶薄膜太阳电池结构的...; 采用多层薄膜反射率与透射率非相干叠加的方法,计算Cu(In,Ga)Se_2(CIGS)多晶薄膜太阳电池的窗口层(CdS薄膜和ZnO薄膜)的光学常数,并通过科希方程和塞尔迈耳方程对计算的折射率进行了拟合,给出了拟合公式,为CIGS多晶薄膜太阳电池结构的光学设计和优化奠定了基础。; 来源：详细信息评论

共面微波探针在片测试技术研究: 收藏
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引用; 《电子学报》2001年第2期29卷 222-224页; 作者：孙伟田小建何炜瑜张大明李德辉衣茂斌集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区吉林大学长春130023; 本文描述了使用共面微波探针的半导体芯片在片测试技术 .设计研制出的多种微波探针性能参数稳定 ,使用寿命在十万次以上 ,用于在片检测各种GaAs共面集成电路芯片 .触头排列为GSG的微波探针 ,- 3dB带宽及反射损耗分别为 14GHz和小于 - 10...; 本文描述了使用共面微波探针的半导体芯片在片测试技术 .设计研制出的多种微波探针性能参数稳定 ,使用寿命在十万次以上 ,用于在片检测各种GaAs共面集成电路芯片 .触头排列为GSG的微波探针 ,- 3dB带宽及反射损耗分别为 14GHz和小于 - 10dB .; 来源：详细信息评论

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