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数字电视解调芯片的可测试性设计与优化
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《微电子学与计算机》2008年 第8期25卷 172-175页
作者：林平分 余会星北京工业大学嵌入式系统重点实验室北京100022 
介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化...
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