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8位RISC_CPU可测性设计
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《微计算机信息》2009年 第5期25卷 279-280,141页
作者：邢万 俞珍传 贺磊 陆锋江南大学信息工程学院无锡214122 立信职教中心校无锡214063 中国电子科技集团第58研究所无锡214035 
本文介绍了一款RISC_CPU的可测性设计,为了提高芯片的可测性,采用了扫描设计和存储器内建自测试,这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。
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