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改进测试效率,提高服务能力: 收藏
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引用; 《中国集成电路》2004年第10期13卷 49-52页; 作者：傅德文张咏镭张怡然上海集成电路设计研究中心; 半导体工业的飞速发展,对集成电路测试提出了前所未有的要求,国内集成电路测试企业要想在竞争激烈的市场中成长和发展,除了需要得到更多的投入和支持外,也需要开展DFT、SCAN、BIST等先进技术,先进工具的应用与研究,努力追赶世界先进水...; 半导体工业的飞速发展,对集成电路测试提出了前所未有的要求,国内集成电路测试企业要想在竞争激烈的市场中成长和发展,除了需要得到更多的投入和支持外,也需要开展DFT、SCAN、BIST等先进技术,先进工具的应用与研究,努力追赶世界先进水平。现阶段,应该尽量挖掘现有设备的潜力,加强同行间的相互交流与合作,千方百计地提高测试效率。文章介绍了三种对提高测试效率,减少测试时间,降低测试成本行之有效的方法。; 来源：详细信息评论

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