摘要：本文报道了由ZIF-67衍生而来的N掺杂C层包裹Co纳米颗粒(NC/Co)复合催化剂及其高效光催化CO_(2)还原性能.研究发现热解温度对N-C/Co复合催化剂的晶粒尺寸和金属性Co^(0)含量的调控具有关键作用,并在此基础上优化了催化剂的光催化活性.在较低热解温度(600℃)下获得的Co纳米颗粒尺寸较小,能够被N-C层良好保护,从而有效抑制表面氧化,使得N-C/Co-600样品中具有更高含量的金属性Co^(0).相反,NC/Co-700和N-C/Co-800样品中的表面氧化物CoO_(x)覆盖了内部Co核,不利于电荷分离和迁移.因此,N-C/Co-600样品表现出最佳的光催化活性.CO和H_(2)的产率分别高达1.62×10^(4)和2.01×10^(4)μmol g^(−1)h^(−1).另外,Co纳米颗粒使得复合催化剂具有磁性,能够在外加磁场辅助下,快速、简易地分离回收.本工作有望为MOF衍生碳/金属复合催化剂的设计提供参考依据.

摘要：为抑制半开绕组直线电机系统零序电流的产生,提出了一种基于逆变器非线性补偿的半开绕组直线电机系统的直接推力控制(direct thrust force control,DTFC)。首先,对半开绕组直线电机零序电流的运行机理进行了分析;其次,设计了基于新型开关表的DTFC策略;然后,引入了逆变器非线性补偿;最后,对所提DTFC进行了仿真验证。仿真结果表明,所提DTFC能明显抑制零序电流的产生,提高半开绕组直线电机系统的运行效率。其零序电流抑制性能系数约为0.07,不仅具备良好的稳态性能,同时还拥有优越的自启动性能与瞬态性能。

摘要：为了精确控制线宽尺寸参数,研制了一套周期尺寸为100 nm~10μm的线距标准样片。首先,依据样片的应用进行了图形设计,分别采用电子束直写和投影光刻技术开发出线距标准样片,并对制备出的样片进行考核,考核参数包括线距尺寸、均匀性、稳定性。并与VLSI同等量值样片的质量参数进行了对比,以周期尺寸为100 nm的样片为例进行表征,研制的样片均匀性为1.8 nm,稳定性为0.6 nm,VLSI样片的均匀性为1.5 nm;并使用CD-SEM对样片进行了定值,整体不确定度为3.9 nm~23 nm(k=2)。研制的线距样片不仅包括光栅结构,还包括格栅结构,可以对不同的测试设备进行现场校准。

摘要：利用N S方程对 9个上翘后体模型进行了气动力计算 ,主要研究后体几何参数和流动参数对上翘后体阻力系数的影响 .研究结果表明 ,后体的压差阻力系数分别随上翘角、收缩比的增加及迎角的减小而明显增加 ;后体摩擦阻力系数分别随后体的长细比的增加和雷诺数的减小而增加 ;后体越扁平 ,其压差阻力系数越大 ;在跨音速时 ,波阻系数也与上翘角有关 ,上翘角增加会导致波阻系数进一步加大 .

摘要：基于N S方程数值计算研究了九个机身上翘后体在零迎角、高亚音速时的绕流与其阻力之间的关系。结果表明,后体在零迎角时存在三种流型:附着流型、分离涡流型和底部分离流型;影响阻力最大的几何参数是后体收缩比,其次是上翘角;收缩比ηA较大时(如ηA≥0.5),会产生很大的底阻;上翘角增加则使压差阻力迅速增大。当收缩比ηA减小时(即尾部较尖)使底部分离引起的粘性压差阻力大大减小,从而可实现最小的后体阻力。因此,首先选择较小的ηA排除底部绕流分离流型的出现、再选择适中的上翘角是上翘后体设计的一项重要原则。

摘要：针对现有单片机系统设计实践教学中存在的问题,探索线上线下混合式教学模式,以优化课程设计实践.以“应用于特定需求的电动机控制系统”项目设计为例,说明采用线上资源、互动讨论、翻转课堂与虚拟仿真配合的混合式教学模式,能够提高该实践课程教学的系统性、灵活性和互动性,切实提升学生的实践创新能力,在培养学生的工程创新能力方面具有良好的效果.

摘要：通过风洞试验，利用７孔探头对７５°／４５°和７５°／６０°两种典型双三角翼进行了空间流场测量，研究了双三角翼前缘形状对大迎角涡流特性的影响．试验结果表明，双三角翼外翼前缘钝化使双涡态的双三角翼内、外翼涡互相靠拢、增加干扰，当出现合并涡态时，使合并涡涡核向内下方偏移；外翼前缘钝化使外翼涡或合并涡的Ｃｐ０、Ｖｘ较尖前缘时为高，最终使外翼涡或合并涡推迟破裂．

摘要：介绍了微米级台阶高度样块的重要作用和国内外研制现状。为了研制出表面质量好的台阶高度标准样块,设计了不同的刻蚀工艺方案。通过对不同刻蚀工艺制作出样块的均匀性、表面粗糙度和平行度进行比较,确定标称高度为2~10μm的样块选用反应离子刻蚀（RIE）,标称高度为20~100μm的样块选用深反应离子刻蚀（DRIE）和湿法刻蚀相结合的工艺。为防止样块氧化,对样块溅射了90 nm的金属铬。对标称高度10μm样块质量参数进行评价。结果表明：表面粗糙度为0.4 nm、平行度为0.5°、均匀性为1.3 nm,优于美国VLSI公司同种材料制作的标称高度为8μm的样块。

摘要：将双三角翼翼面测压试验结果与空间涡态观察测量结果进行了定性的相关对比分析，分析表明：垂直于双三角翼翼面的典型横截面上展向压强系数Ｃｐ分布与空间涡态有明显的对应关系，Ｃｐ分布的峰值数目反映了双三角翼的双涡态和单涡态，Ｃｐ峰值随α变化反映了涡强随α的变化，Ｃｐ峰值所在展向位置反映着涡核的展向位置，Ｃｐ峰形的平坦反映了涡的破裂．

摘要：介绍了纳米级线宽标准样片的用途及其在校准扫描电子显微镜中存在的问题,设计了具有快速循迹结构的线宽标准样片,采用电子束光刻工艺制作了标称宽度为25nm~200nm的线宽样片。以50nm和200nm线宽为例对样片的线宽偏差、线边缘粗糙度、线宽均匀性和稳定性进行了考核。结果表明,标称值50nm~200nm的样片线宽值与设计值基本一致,线边缘粗糙度为1.9nm~2.0nm、均匀性为1.7nm~1.9nm,稳定性为0.06nm~0.6nm。