摘要：散射式扫描近场光学显微镜(s-SNOM)是现代光学技术的重要分支。s-SNOM突破了衍射极限,在红外和太赫兹波段实现了纳米尺度成像。目前市面上商用的s-SNOM大多适合在常温常压环境下使用。而很多具有新奇物性的材料需要低温的测试环境。本文作者设计并搭建了一套采用液氦杜瓦维持低温环境的超高真空近场光学显微镜。该系统基于原子力显微镜(AFM),可以同时获得样品的形貌和近场光学成像。自制的压电驱动电机用于探针、样品和抛物面镜的位移控制。作者用标准样品TGQ1评估了s-SNOM的性能,并对NdNiO_(3)薄膜的金属绝缘体相变(MIT)进行红外近场成像。测量结果展现了该系统在低温下的优异性能。低温s-SNOM技术能够为NdNiO_(3)等关联氧化物薄膜相变过程提供介观尺度的丰富信息。