摘要：运用平衡合金法设计17个关键合金,并结合金相显微镜(OM)、X射线衍射(XRD)和电子探针显微分析(EPMA)测定Al-Ce-Ge三元系在500℃时的相平衡信息。结果表明:在500℃时,该三元系稳定存在α(CeAl_(1.62)-Ge_(0.38)),β(CeAl_2Ge_2),γ(CeAlGe),δ(CeAlGe_2)和ε(Ce_2AlGe_6)五个三元化合物及液相,测定δ相成分范围为Ce_(24.7~24.8)Al_(33~33.9)Ge_(41.3~42.3);实验发现η(Ce_(61.3)Al_(21.9)Ge_(16.8))和μ(Ce_(55.9)Al_(11.1)Ge_(33))两个新的三元化合物;并发现α+CeAl_3+γ,Ce_3Al_(11)+CeAl_3+γ,αCeGe_(2-x)+CeGe+γ,CeAl+CeAl_2+Ce_5Ge_3,Ce_3Ge+Ce_5Ge_3+Ce_3Al,CeAl+Ce_3Al+η和CeAl_2+Ce_5Ge_3+μ七个新的三相区。

摘要：针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究。首先,通过开展面阵CCD60Coγ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率。然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律。最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制。结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响。

摘要：从设计和实现2个方面介绍了质子单粒子效应数据信息系统。该系统围绕西安200 MeV质子应用装置而建,不仅能收集与质子试验相关的试验条件和试验结果等信息,形成资源中心,而且能管理与质子试验相关的机时分配、材料及报告审核等业务流程,实现了静态资源与动态业务管理的有机融合,可对辐照效应数据进行全寿命周期管理,保证数据的完整性、规范性和可追溯性,并提高管理效率和应用水平。