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Xilinx XC4000系列FPGA自动测试平台搭建
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《微计算机信息》2010年 第11期26卷 10-12页
作者：刘肄倬 杨志家 王宏中国科学院沈阳自动化研究所沈阳110016 中国科学院研究生院100049 
随着FPGA的发展,FPGA测试技术也得到了相应的发展。因为FPGA的结构和传统专用集成电路(ASIC)有着本质的区别,在FPGA中不能形成可测性设计电路,但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现。本文讨论了Xilinx XC4000系列F...
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