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0.13 μm SOI标准单元库抗总剂量辐射的测试验证
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《半导体技术》2017年 第6期42卷 469-474页
作者:卢仕龙 刘汝萍 林敏 俞跃辉 董业民中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室上海200050 上海科技大学物质科学与技术学院上海201210 
基于上海微系统与信息技术研究所0.13μm抗辐射部分耗尽(PD)绝缘体上硅(SOI)互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺标准单元库,设计了一款测试芯片,针对总剂量辐射效应对抗辐射标准单元库的验证方法进行研究。测试芯片主要用于测试标准单元的...
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基于FPGA的智能语音垃圾箱的设计与实现
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《物联网技术》2021年 第5期11卷 39-41,44页
作者:梁小 刘九 欧阳歆曈 宋敏 徐磊湖北大学物理与电子科学学院湖北武汉430061 
为解决生活垃圾分类难的问题,文中基于FPGA硬件平台设计了一套智能语音垃圾箱。用户只需对垃圾箱说出垃圾名称,垃圾箱就会自动打开对应类别的垃圾收集腔。系统通过WM8978芯片和麦克风采集语音信号,然后对其进行特征提取。事先通过MATLA...
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