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基于I^2C总线的I/O口扩展设计
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《现代电子技术》2012年 第12期35卷 59-62页
作者：叶扬科 钱剑敏 成高东华大学信息科学与技术学院上海201620 上海华东汽车信息技术有限公司上海201620 
由于传统的NI-DIO驱动板卡能够驱动的I/O口数量比较有限,一般只应用在测试通道数比较少的实验场合。而在一般的大型环境试验中,要求能对多个产品同时测量。如果使用传统的DIO板卡测试,就会出现测量通道数量不够的情况。针对此类问题,提...
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