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TP805在可编程间隔定时器测试上的应用
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《微处理机》1991年 第4期12卷 53-59页
作者:吉国凡机械电子工业部东北微电子研究所 
本文阐述了一种采用TP805灵巧计算机测试可编程间隔定时器——8254功能的方法。用TP805的扩展口把8254的总线挂在系统总线上,用Z80PIO判别8254的计数输出。重点介绍了程序的设计思想和主要的流程框图,该方法经使用,认为检测器件的逻辑功...
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LC4781型嵌入式MCU的研究
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《微处理机》2002年 第3期23卷 20-22页
作者:刘明 王笑怡 吉国凡东北微电子研究所沈阳110032 
简介了 LC4781型嵌入式 MCU的主要功能和相关的设计、制造、测试技术。
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基于Multi-Site并行测试的效率分析与研究
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《微处理机》2011年 第1期32卷 1-4页
作者:金兰 刘炜 吉国凡北京华大泰思特半导体检测技术有限公司北京100094 
在晶圆芯片测试时,提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果。在采用Multi-site方式的并行测试中,需要先解决选择何种产品进行并行测试,如何确定并行site数等问题,然后再用最高效率的方法设计确定Multi-site并行测试方案。从...
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集成电路并行测试适配器设计技术
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《微处理机》2007年 第6期28卷 13-14页
作者:侯政嘉 刘炜 石志刚 吉国凡北京华大泰思特半导体检测技术有限公司北京100088 
重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。
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用于CMOS集成电路的IDDQ测试技术研究
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《微处理机》1999年 第3期20卷 13-15,29页
作者:吉国凡 薛宏 王忆文东北微电子研究所沈阳110032 
主要介绍了 CMOS电路的 IDDQ测试技术。该技术的实现方法有两种 :一种是片内 IDDQ测试 ;另一种是片外 IDDQ测试。前一种是在被测芯片内 ,设计一个电流传感器。后者是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路 ,变 IDDQ为电压测试 。
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LC6402-2通用异步收/发器的研制
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《微处理机》1998年 第4期19卷 8-10页
作者:谢鸭江 宁书林 吉国凡电子工业部东北微电子研究所沈阳110032 
本文介绍了2MHz10mWCMOSLC6402-2通用异步收/发器。它采用可靠性设计、可靠性工艺实施和测试。具有可编程字长、停止位和校验、自动生成数据格式和状态等特点,可以广泛用于军事和工业控制系统。
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LN8254—可编程计数(间隔)定时器逻辑分析
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《微处理机》1991年 第4期12卷 4-17页
作者:张东庄 陈宜荣 吉国凡 赵军 宁书林 苏秀娣机械电子工业部东北微电子研究所 
LN8254是为解决软件中常遇到的计时问题而设计的。文章重点介绍了计数器的逻辑分析,较详细的说明电路读/写原理,简单地介绍了电路的功能和用途。该电路编程简单,使用方便,是一种较理想的计数定时器件。
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