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IGBT焊料层中的空洞对器件热可靠性的影响
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《固体电子学研究与进展》2011年 第5期31卷 517-521页
作者:张健 张小玲 吕长志 佘烁杰北京工业大学电子信息与控制工程学院北京100124 
根据IGBT的基本结构和工作原理,建立了一种新的IGBT三维热模型。该模型考虑了Si材料的温度特性,模拟研究了焊料层空洞对器件热稳定性的影响。研究表明焊料层空洞对IGBT器件的热稳定性有很大的影响。实测结果、超声波显微镜以及红外显微...
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一种动态频率补偿LDO的电路设计
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《微电子学与计算机》2012年 第8期29卷 185-188页
作者:彭振宇 吕长志 郭敏 杨娟北京工业大学电子信息控制工程学院北京100124 
设计了一种动态频率补偿、高稳定性的LDO电路.针对具有Buffer缓冲器的LDO环路稳定特性随负载变化而变化的特点,给出一种新型的LDO频率补偿结构.这种补偿结构能很好地根据负载电流的变化,动态地改变环路次级极点的位置,进而提高环路稳定...
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基于LabVIEW的编码模块精度测量研究
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《计算机测量与控制》2013年 第8期21卷 2071-2073页
作者:卢华英 吕长志 谢雪松 张小玲 单立超北京工业大学可靠性物理研究室北京100124 
为了对编码模块进行标准化,系列化测量,设计了一套编码模块通道精度测量系统,基于LabVIEW虚拟仪器软件设计上位机控制平台,进行测量控制和数据处理;基于FPGA平台实现下位机硬件设计,测量系统可以实现对编码模块通道精度的自动测量,极大...
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遥测发射机调制失真度测量研究
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《测控技术》2014年 第5期33卷 143-145,149页
作者:卢华英 吕长志 谢雪松 张小玲 单立超北京工业大学可靠性物理研究室北京100124 
介绍了一种采用频谱分析仪基于贝塞尔函数的调制失真度测量方法。设计了一套遥测发射机调制失真度的测量系统。基于LabVIEW虚拟仪器软件设计上位机控制平台,进行测量控制和数据处理;下位机硬件实现参数测量。此方法简单实用,大大提高了...
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DC/DC电源模块的有限元热分析
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《微电子学》2009年 第1期39卷 101-104页
作者:王元春 马卫东 吕长志 李志国北京工业大学电子信息与控制工程学院北京100124 
为解决电源模块的热可靠性问题,利用有限元热分析软件ANSYS对其进行热分析,得到整个模块的温度场分布情况;分析了模块中各生热元件的温升及其之间的热耦合情况;根据热分析结果提出热设计方法。最后,对模块各部分进行重新布局,证实了重...
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一种隔离型数据采集系统的设计与实现
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《测控技术》2014年 第11期33卷 57-59页
作者:张本云 谢雪松 张小玲 吕长志 佘烁杰 贾旭光北京工业大学电子信息与控制工程学院北京100124 
介绍了一种低噪声的隔离型数据采集系统的设计方法,该方法可使电路的信噪比大幅提高。系统采用FPGA为控制芯片,以LAN为接口实现FPGA和主机之间的数据通信。应用数字隔离技术,通过软、硬件的结合,实现了对模拟信号的数据采集功能,并介绍...
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评价功率MOSFETs热稳定性的客观标准
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《电力电子》2006年 第3期4卷 47-49页
作者:Scott Pearson Gary Dolny 吕长志 亢宝位Fairchild Semiconductor Corporation Alain Laprade 北京工业大学 
为了低损耗开关模式电源(SMPS)结构的最佳化,硅工艺技术的进步已经使MOSFET几代器件持续地具有较高的跨导,并且使得前几代器件被逐渐淘汰。然而当这些高跨导的器件应用于线性模式时,具有热集中的倾向。由于已发表的分析方法需要硅器件...
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