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基于STM32的电能质量检测技术研究
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《国外电子测量技术》2011年 第6期30卷 72-74,78页
作者：郑一维 李长俊 吴讯驰 陈尚松桂林电子科技大学TCR研究室桂林541004 华南理工大学自动化科学与工程学院广州510641 
目前国内外已有多种检测电能质量的方法,介绍了一种基于ARM Cortex-M3内核的32位处理器STM32内嵌式智能仪器模式设计的方案。利用STM32内置A/D以及ATT7022B芯片对信号进行多通道采集,对各电能参数进行检测和分析。运用处理器自带的SD卡...
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