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基于老化特征化提取进行时序分析的解决方案
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《电子技术应用》2022年 第8期48卷 51-54,59页
作者:陈寒 宋存彪 吴韦忠中兴微电子技术有限公司后端设计部FoundationIP上海200120 
基于Cadence的Liberate+Tempus解决方案,采用一种先进的标准单元老化特征化的方法,同时考虑了偏置温度不稳定性(Bias Temperatrure Instability,BTI)和热载流子注入(Hot Carrier Injection,HCI)老化效应,得到标准单元老化时序库,用于Tem...
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