摘要：针对无源射频识别(RFID)定位问题,建立了重叠的读写器天线布局规划以及年轮式概率模型,提出了重叠年轮式定位算法,并通过Kp值修正以及双标签边缘修正实现精确定位.验证表明,与邻近算法相比,重叠年轮式无源RFID定位算法使定位误差降低了33.929%,同时定位误差概率累积分布曲线的收敛速度也显著提高.

摘要：在纳米级工艺条件下,高速运算单元核心部件XC Domino动态门面临严重的软错误问题.本文提出一种适用SEU类软错误容错设计的免疫型XC Domino动态门,此免疫型动态门借鉴了锁存器单元稳定结构,对于动态门的输出端实施P-type扩散区隔离以完成SEU的防护.通过Spectre电路仿真,验证了SEU免疫型动态门能够实现对于高达2倍Vdd振幅电压脉冲干扰的SEU类软错误容错;另外,与传统XC Domino动态门容错设计方案相比,免疫型动态门能够降低13.64%的门延时,并能在减少47.37%面积开销的同时降低75.54%功耗开销.

摘要：针对触发器在纳米级工艺下容易受空间辐射中单粒子效应的影响而产生软错误的情况,基于CPSH触发器结构,研究了一种对单粒子效应中SET/SEU加固的延时采样软错误防护(DSSEP)触发器结构。该触发器由延时采样单元、输入传输单元、软错误鲁棒存储锁存器和反相输出单元组成。延时采样单元对来自其他逻辑电路的输出数据进行采样,采样数据经输入传输单元写入软错误鲁棒存储锁存器,并通过一个反相输出单元输出。仿真结果表明,DSSEP触发器具有很好的SET/SEU加固能力。经过比较和分析,证明DSSEP触发器与具有同样SET/SEU加固能力的保护门触发器(GGFF)相比,在晶体管数目和传播延时方面仅为GGFF的62%和33%。