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应用磁光效应测量高双折射光纤中应力引起的双折射
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《实验力学》2002年 第Z1期17卷 153-156页
作者：陈国霖 戴福隆 周辛庚清华大学工程力学系北京100084 
基于光纤介质磁光效应而设计的高双折射光纤应力双折射测量方案,其特点是沿光纤长度方向加局部强磁场,通过移动磁场测量应力双折射.具有不破坏光纤保护层、测量结果与光纤是否扭转无关,操作简便,分辨率高等优点.本文给出了测量原理、实...
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