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一种基于MCU芯片的FPGA原型验证平台设计
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《电子技术应用》2022年 第9期48卷 59-62页
作者:张文文 唐映强无锡中微爱芯电子有限公司江苏无锡214072 
为了缩短MCU芯片开发周期,提出了一种基于MCU芯片FPGA原型验证平台设计。该设计是将传统FPGA原型验证过程中使用FPGA的RAM原型替换程序存储单元,改为使用FPGA双端口RAM替换。其中一个端口控制按照传统的接入方法,另一端口控制信号接到...
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基于C8051的片上调试单元设计
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《电子与封装》2017年 第3期17卷 19-21,25页
作者:俞小平 唐映强 李世伟无锡中微爱芯电子有限公司江苏无锡214072 
随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,劲的调试手段是非常重要的。当bug复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要。基于C8051 IP设计了一...
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