摘要：在现代监控系统中,出于全天候监控的需要,多同时配备夜视仪和可见光监控设备,2种监控设备共用一套显示设备,2路视频信号通过四选一视频多路复用芯片AD8184进行切换。为了满足芯片AD8184功能测试的需要,设计了一体式芯片AD8184测试装置。采用模块化设计方式,将信号产生电路、通道编号显示电路等各种功能电路模块单独设计,最终组成一个测试装置,对AD8184芯片进行功能检测。在AD8184芯片测试装置制作完成后,对其进行测试。结果表明,测试装置达到了预定的设计指标。由于AD8184芯片测试装置自带信号产生电路和通道编号显示电路,可以节省信号发生器等昂贵设备,同时,可视化操作设计也提高了测试效率。

摘要：为满足黑体辐射面温度的高精度测量需要,设计了一种基于数模转换芯片ADS1218Y的高精度多通道测温系统。该高精度多通道测温系统包含铂电阻电路,AD采样和模拟电子开关电路等硬件电路和测温软件,具有稳定性好,精度高,抗干扰能力强等优点。实验结果表明:该电路可以实现多通道的温度精确测量,测量绝对误差小于0.01℃,满足黑体辐射面温度的高精度测温需求。

摘要：本文采用透射光谱法测量Ge基底类金刚石薄膜(Diamond-like carbon,DLC)的光谱曲线。应用测量的光谱曲线,基于模拟退火算法,构建目标优化函数,通过光谱反演法得到薄膜的厚度、折射率、消光系数。该方法得到的Ge基底类金刚石膜的光学参数与椭偏仪测试结果比对,折射率误差小于1%,厚度误差小于2%。并且将薄膜的光学参数带入透过率理论计算模型,得到的Ge基底类金刚石薄膜透射光谱曲线和实际测试曲线的误差小于2%。该方法只需测量透射光谱曲线,通过计算就能得到薄膜光学参数,对光学薄膜设计和加工具有重要指导意义。