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异构多核DSP芯片的可测性设计
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《中国集成电路》2023年 第8期32卷 76-80页
作者:孙大成中国电子科技集团公司第38研究所 安徽芯纪元科技有限公司 
本文介绍了一款异构多核DSP芯片的可测性设计实现,包含存储器内建自测试、存储器修复、扫描链设计、测试压缩和全速扫描测试。文章首先对芯片架构和可测性设计难点进行了介绍,并制定了全芯片可测性设计的策略,随后介绍了具体的实现,最...
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层次化设计方法在存储器内建自测试上的应用
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《中国集成电路》2023年 第4期32卷 21-24页
作者:孙大成中国电子科技集团公司第38研究所 安徽芯纪元科技有限公司 
本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理,针对具体的RTL实例,对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较。实例结果表明:层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中,可以加速设计,减少设计迭代时间,大幅提高工作效率。
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高职高专GPS测量技术课程创新设计
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《广西职业技术学院学报》2012年 第2期5卷 42-45页
作者:孙大成辽宁林业职业技术学院辽宁沈阳110101 
本文对高职高专GPS测量技术课程从课程定位、课程目标、课程内容方面进行了重新探讨和设计。
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一种高效测试压缩技术的实例分析
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《中国集成电路》2023年 第5期32卷 27-30页
作者:孙大成中国电子科技集团公司第38研究所 安徽芯纪元科技有限公司 
本文首先介绍了向量测试压缩技术的原理,随后针对具体的设计实例,引入Design Compiler^([1])工具设计实现了两种不同的测试压缩方案,最后利用TetraMAX^([2])工具进行了覆盖率分析比较。实例结果表明:超压缩方案相对于自适应压缩方案,可...
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基于片上PLL时钟的at-speed测试设计
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《中国集成电路》2009年 第10期18卷 34-37,47页
作者:孙大成中国电子科技集团公司第三十八研究所合肥230031 
深亚微米制造工艺的广泛采用及越来越高的芯片工作频率,使得具有时序相关的芯片缺陷数量不断增加,at-speed测试成为对高性能电路进行测试的必要技术。文章首先介绍了at-speed测试的故障模型,以及具体测试方法,然后详细介绍了采用PLL时...
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应用于开关电源芯片的频率抖动技术
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《电子与封装》2016年 第3期16卷 37-40页
作者:孙大成中国电子科技集团公司第47研究所沈阳110032 
为了减小开关电源中的电磁干扰(EMI),研究了单片开关电源中的频率抖动技术,并简要介绍了频率抖动技术及其原理。设计一个具有频率抖动功能的弛张振荡器,分析了以弛张振荡器原理为基础具有频率抖动功能的振荡器结构设计和原理。通过HSPIC...
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移动通信网紧急呼叫业务发展研究
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《中国新通信》2023年 第19期25卷 17-19页
作者:孙大成北京天舟通信有限公司 
为了满足在紧急情况下人们呼叫救援的基本需求,加快紧急呼叫业务的发展速度,促进我国移动通信网领域的长足发展与进步,本文对移动通信网紧急呼叫业务的发展进行了分析与研究。首先,本文阐述了紧急呼叫业务的发展背景;其次,对我国紧急呼...
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65nm工艺下百万门级芯片的物理设计
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《中国集成电路》2012年 第1期21卷 31-35页
作者:张杰 孙大成中国电子科技集团公司第三十八研究所 
随着集成电路工艺的发展,集成电路后端物理设计变得越来越复杂,遇到了很多新的挑战。本文介绍了一款65nm工艺百万门级芯片的物理设计过程,论述了在布局规划、电源网络规划、时钟树设计、信号完整性、可制造性设计等方面的解决方案,提出...
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一种嵌入式机电设备状态监测网络系统的研究
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《机电信息》2012年 第24期 133-135页
作者:孙大成中钢设备有限公司北京100080 
介绍了嵌入式机电设备状态监测网络系统的总体设计方案,说明了嵌入式TCP/IP协议的具体实现方式,对系统进行了现场测试并分析了测试结果。
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几何变换单元的设计及其FPGA实现
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《电子测量技术》2007年 第12期30卷 76-78,90页
作者:孙大成 郭立中国科学技术大学电子科学与技术系合肥230026 
随着计算机绘图规模的需要,借助辅助硬件资源,来提高图形处理单元(GPU)处理速度的需求越来越普遍。结合计算机绘图及FPGA的特点,本文采用Top-Down的方法对GPU几何变换单元部分进行了FPGA设计实现。所有结构模块均实现了RTL级建模,并对...
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