摘要：测试开关变换器的磁芯在不同工况下的损耗可以给电力电子工程师进行合理的热设计提供依据，选择合理的工作区间。基于功率放大器磁损测试平台的电测量方法简单可行，但由于功率放大器输出阻抗的影响，获得的激励波形会小于实际期望波形。论文提出了所需叠加的激励波形计算方法，通过ArbExpress 软件生成补偿波形以消除功率放大器输出阻抗对激励波形的失真影响。磁损测试平台的实验验证了该方法的有效性。

摘要：在中高功率LED灯电源设计中,后级电路常采用LLC拓扑结构。L6599是STMicroelectronics(ST)公司的一款用于LLC谐振变换器的经典控制器,目前很多半桥LLC产品中均采用此IC。因此建立L6599芯片的器件库模型,对于研究以L6599为核心器件的LLC电路具有重要意义。通过Saber软件建立了L6599芯片的器件库模型,实现了其基本功能和各种保护功能。最后用建立的L6599芯片的器件库模型进行半桥LLC谐振变换器的时域仿真,验证了模型的有效性,为缩短产品开发周期,减少研发成本提供了可能。

摘要：为了获得磁芯在不同频率和磁通密度下的正弦激励损耗,高频磁损测试平台系统应能够可靠有效地调节激励波形频率和幅值。研究基于直接数字合成技术AD9834芯片产生所需频率的正弦信号,并通过与DAC芯片AD5620结合调制正弦信号源的幅值,单片机可通过SPI三线串口对信号源进行实时调节。实验结果表明,该系统可以得到幅值、频率连续可调的正弦波,输出频率范围宽,稳定性好,可以为高频磁芯损耗测试平台提供可靠的正弦信号源。