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基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计
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《集成电路应用》2023年 第7期40卷 28-30页
作者：魏江杰 张竣昊 孙碧垚中电科申泰信息科技有限公司江苏214125 
阐述基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计,可以根据集成电路的实际需求,满足集成电路在扫描链功能测试、通用接口通信功能测试的双重需求,可以实现对多种通用芯片的关键参数进行测试。在测试阶段,降低了测试成本,系统有比较好的复用性。
来源：详细信息评论
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