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小线径键合金丝熔断电流测试与分析: 收藏
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引用; 《中国电子科学研究院学报》2021年第5期16卷 430-433,450页; 作者：伍艺龙罗建强丁义超陈绪波李亚茹季兴桥康菲菲周文艳中国电子科技集团公司第二十九研究所四川成都610036 贵研铂业股份有限公司云南昆明650156; 键合引线的电流承载能力是封装设计的重要考虑因素之一,如果设计不当会导致引线熔断失效。目前小线径键合金丝在高集成度、多I/O、高频率封装中的应用越来越多,但对小线径金丝熔断特性的研究较少。文中分析了熔断电流理论计算的局限性,...; 键合引线的电流承载能力是封装设计的重要考虑因素之一,如果设计不当会导致引线熔断失效。目前小线径键合金丝在高集成度、多I/O、高频率封装中的应用越来越多,但对小线径金丝熔断特性的研究较少。文中分析了熔断电流理论计算的局限性,设计了熔断电流测试样件及测试软件,对小线径金丝的熔断电流进行了测试,并给出了安全设计电流建议。; 来源：详细信息评论

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