摘要：研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命,外推器件正常工作条件下的循环寿命。得到了LD组件可靠性数据,为工艺设计人员提出量化数据。

摘要：文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的使用寿命。