摘要：为了使光盘获得优良的记录 /读出性能并能够长期稳定地使用 ,必须优化设计相变光盘的多层膜结构。采用自行设计的模拟分析相变光盘读出过程设计软件 ,从光学角度出发模拟计算了蓝光 (40 5nm)相变光盘的膜层结构 ,研究了多层膜系的反射率和反射率对比度等光学参量与各层膜厚度和槽深的关系。研究得出的最佳多层膜结构为 :下介电层 /记录层 /上介电层 /反射层的厚度对于台记录为 10 0nm/ 10nm/ 2 5nm/ 60nm ,而对于槽记录则为14 0nm/ 15nm/ 3 0nm/ 60nm ,槽深为 50nm。

摘要：以TbFeCo作为蓝光磁光盘的记录介质 ,需要对传统磁光盘热、光学结构进行改进以提高载噪比。利用光学特征导纳矩阵法对改进结构的磁光盘膜层进行了优化设计 ,得到了较好的匹配结果 ;并通过热学计算得到了记录膜体温度分布 。

摘要：以菲涅尔-基尔霍夫衍射理论为基础,建立了超分辨近场结构中Bubble微结构对高斯光束的衍射模型.分析了PtOx型超分辨近场结构(PtOx-Type-Super-RENS)中Bubble微结构的远场光学特性.结果表明,设计的Bubble微结构形成过程的简化模型可基本反映超分辨近场结构中掩膜结构在激光作用下的结构变化过程,说明了高斯衍射模型是研究薄膜微结构变化的一种有效方法.

摘要：超分辨技术是一种无需减小记录波长或增大数值孔径而提高存储密度的方法。Ge Sb Te是一种良好的相变光存储材料 ,在超分辨光盘中可作为掩膜。利用多层膜反射率的矩阵法计算了掩膜为Ge2 Sb2 Te5薄膜的超分辨只读式光盘的光学参数与各膜层厚度之间的关系 ,最后得到了较为理想的膜层厚度匹配。采用磁控溅射法制备了只读式超分辨光盘 ,测量了光盘的光学性质。

摘要：本文报道用自行设计的扫描隧道显微镜对光盘预刻槽进行测量。为观察大范围的结构,我们设计了一个新的大范围扫描头(～6μm),并成功地观察到预刻的槽形,给出了光盘预刻槽的灰度图像、三维轮廓像及剖面轮廓。为评价预刻的槽形提出了一种有效的测量手段。

摘要：实用的相变光盘膜应由包含相变介质膜和匹配膜的多层膜结构绍成。本文根据膜系特征导纳矩阵,匹配设计了相变光盘的多层膜结构。设计结果表明:(1)λ=8300 处多层膜结构较单层膜结构(只有相变记录介质膜)对写入激光吸收提高一倍左右;(2)反射率对比度有较大提高,R_c∶R_a可达4∶1。最后对设计结果给出了实验证实。

摘要：蓝光光存储是信息存储领域发展的一个重要方向。测试系统是研究蓝光光存储材料的必备条件。为建立蓝光光存储研究平台,设计和搭建了一套模块化蓝光光存储性能静态测试系统。激光工作波长为406.7nm。系统采用调制解调技术降低系统噪声,提高测量精度;采用光点移动模式降低对样品尺寸的要求;采用纳米平台提高记录点的反复定位性能。实验结果证明测试系统性能良好,可以满足蓝光光存储性能静态测试要求。

摘要：报道了GeS_2和GeSe_2非晶半导体薄膜经过光照后,薄膜的光学透射边均出现绿移,这种绿移在预先退火后的薄膜中是可逆的,即退火薄膜经光照后光学透射边的绿移可以通过对薄膜进行第2次退火而使薄膜的光学透射边恢复到原来第1次退火的位置.通过透射电子显微镜测试,在光照后的GeS_2和GeSe_2薄膜中观察到光致结晶现象.利用薄膜的这些光致效应特性可以设计出新型的光存储材料.

摘要：推导了光聚物全息存储布拉格偏移与记录角度的关系公式,数值计算的结果与实验符合很好。结果表明,光聚物全息存储的布拉格偏移与记录角度有比较大的关系,对于倾斜光栅,记录过程中参物光夹角越小,布拉格偏移越大。该结果对光聚物高密度全息存储器光路的设计有参考意义。

摘要：本文从氟化物玻璃组成化合物的基本性质出发,分析了氟化物玻璃中常见的39种氟化物对其红外多声子吸收损耗的影响,并建立了一整套相应的参数(α_(0i),ω_(0i),A_i)。运用这些参数不仅可定量地估算已知组成玻璃的红外吸收损耗值而且还能指导设计具有更低吸收损耗值的玻璃组成。通过对一些氟化物玻璃的红外多声子吸收损耗的实验研究,部分地证实了所建立参数的正确性。