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高分辨率测深侧扫声纳
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《海洋技术》2005年 第4期24卷 29-35页
作者:朱维庆 刘晓东 张东升 张方生 秦高林 廖诤 方常乐中国科学院声学研究所北京100080 美国亚迪技术开发(上海)有限公司上海200122 
文中介绍了由中国科学院声学研究所和美国亚迪技术开发(上海)有限公司联合设计和制造的高分辨率测深侧扫声纳,它能够同时获得高分辨率的海底地形和地貌。该声纳由电子分机和分别安装在载体左右两侧的两条声纳阵组成,最大工作水深6 000 ...
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