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硅栅CMOS集成电路测试图形的研究: 收藏
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引用; 《华东师范大学学报（自然科学版）》1992年第1期 53-63页; 作者：桂力敏贺德洪丁瑞军董胜强谢嘉慧陈承陈康民陈谷平徐士美华东师范大学电子科学技术系上海元件五厂; 本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散及腐蚀引起的横向变化量的组合结构,(2)用于监测CMOSIC动态参数的结构设计及其对工艺的评价。; 本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散及腐蚀引起的横向变化量的组合结构,(2)用于监测CMOSIC动态参数的结构设计及其对工艺的评价。; 来源：详细信息评论

众说纷纭话命题——1998年高考历史试题大家谈: 收藏
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引用; 《中学历史教学参考》1998年第10期 19-22页; 作者：艾美告娄卫星徐士君汪瀛于有波汪华明; 中国史与世界史比例不合理《考试说明》中规定，中国史与世界史内容比例约为６５％∶３５％。据资料记载，１９９５年、１９９６年、１９９７年中国史与世界史在试题中的内容分配比例，分别为６５％∶３５％、６４．６７％∶３５．３３...; 中国史与世界史比例不合理《考试说明》中规定，中国史与世界史内容比例约为６５％∶３５％。据资料记载，１９９５年、１９９６年、１９９７年中国史与世界史在试题中的内容分配比例，分别为６５％∶３５％、６４．６７％∶３５．３３％、６４．６７％∶３５．３３％，而...; 来源：详细信息评论

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