摘要：理论研究了有ITO(indiumtin oxide)透明导电膜的多层平面分层介质系统的电磁性能,给出的理论曲线和实测曲线符合很好.多层平面分层介质系统的电磁性能与ITO膜(方块电阻为8Ω)所在界面位置和平面分层介质系统层数及各层厚度等有关.优化设计了一种含有ITO透明导电膜的厚度仅7·35mm的四层平面分层介质系统,其在8—18GHz频段内电磁波反射性能很好.作为多层平面分层系统中的ITO导电膜,其方块电阻应低于30Ω,并且越小,其反射性能越好.

摘要：论述了多层薄膜光学常数的椭偏测量原理以及测量方法。采用导纳矩阵计算多层薄膜的椭偏参数;采用统计试验法与单纯形法相结合的数值逼近法进行反演计算。更重要的是本文首次提出迭代椭偏测量法,使测量的重复性和精确度都大大提高。所谓选代椭偏测量法是不断地优选椭偏测量入射角,从而选出对该样品来说最佳椭偏测量入射角。用这种方法精确测量了相变光盘记录介质膜晶态下的光学常数,这对于相变光盘膜系结构优化设计很重要。

摘要：论述了相变光盘最佳膜系结构的设计．采用导纳矩阵法计算膜系的能量反射率，用最优化计算方法编程计算．提出了第二大极值解作为在工艺上可行的实用光盘的膜系结构，并按这种膜系结构制作样品，其擦写循环数达１００万次以上．