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老炼试验中上下拉电阻实例分析
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《电子质量》2023年 第1期 87-90页
作者:周杰 周蕾 成锡军中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 
在芯片正常运行过程中,需要对特定的IO烧录口进行电平钳制,即保持在高/低电平。为了达到这样的目的,在设计硬件时,需要给烧录口进行上下拉电阻的匹配。从实际中的一个具体项目出发解释了正确使用上下拉电阻对芯片信号的影响和作用。通...
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提高老炼试验板可靠性的设计方法实例分析
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《电子质量》2020年 第12期 46-51页
作者:陈真 冯慧玲 成锡军中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 
老炼试验板(PCB)是电子产品老炼过程中电路元件和器件的支撑件,为电路元件和器件之间提供电气连接。通过对典型案例的异常问题进行分析,提出了提高PCB可靠性设计的改善方法和完善措施,从影响PCB设计的"布通率"和抗干扰性方面...
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PCB设计方法与技巧
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《电子质量》2021年 第10期 139-141,150页
作者:成锡军 冯慧玲 周蕾中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 
PCB质量的好坏很大程度上决定了电子产品的稳定性、寿命和应用范围。该文从PCB叠层设计、元器件布局、布线设计、接地设计等方面,较为全面地阐述了PCB设计流程、方法和技巧。按照笔者所述方法和技巧设计的PCB,其信号完整性、电磁兼容性...
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