摘要：按照机内测试 (BIT)的设计、生产、运行和维修这个设备全寿命周期的时间历程 ,对BIT各个阶段的虚警原因进行了总结 ,并针对BIT各阶段的虚警原因 ,从BIT设计、BIT硬件、BIT软件、管理与人和环境因素等五个方面提出了一个较为系统和完整的BIT虚警问题解决方案。这为武器装备的测试和维修的深入研究打下了基础 ,对BIT的广泛应用具有指导意义。

摘要：分析机内测试（ｂｕｉｌｔ—ｉｎｔｅｓｔ，ＢＩＴ）技术发展趋势和技术特点，从系统设计、信息处理到综合决策各阶段对ＢＩＴ中人工智能技术（专家系统、人工神经网络、模糊理论、信息融合等）的应用进行综合分析，建立智能ＢＩＴ的理论框架。

摘要：基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。

摘要：基于边界扫描的电路板测试性设计中 ,迫切需要解决“测试性改善程度一定时 ,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题。本文首先深入分析了该问题 ,证明它是一个NP 完全问题 ,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明 ,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。

摘要：根据系统级BIT设计的要求,明确了系统级BIT设计中测试选择所需解决的问题,提出了测试选择的基本思想;在此基础上,利用系统级故障隔离的间接熵法实现了系统级BIT设计中的测试选择,并引入测试时间和故障发生频率参数对间接熵法进行了修正,获得了可以较快地判断系统是否可用并隔离大概率故障的测试集。理论分析及实验数据表明,该文提出的系统级BIT设计中测试选择方法是有效的。

摘要：近２０年来机内测试（ＢＩＴ）技术从理论到应用取得了显著进展，已成为提高产品测试性和诊断能力的有效途径。本文概述了ＢＩＴ技术的特点，分析了国内外ＢＩＴ的发展趋势，对ＢＩＴ智能化从系统设计、信息处理到综合决策各阶段进行概括，对专家系统、神经网络、模糊理论、信息融合等智能理论在ＢＩＴ中的应用进行了综合分析。

摘要：随着测试性设计技术的广泛应用,测试性建模与分析技术日益受到产品设计人员的关注。本文介绍了多信号流图建模方法,并以某飞行器配电器为例,运用多信号流图进行建模分析。在模型分析的基础上,对某飞行器配电器的可测试性进行评价。结果表明,多信号流图测试性建模方法在产品的可测试性设计应用中可行、有效。

摘要：简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。

摘要：简要介绍了某捷联惯导系统 (SINS)的组成原理和工作流程 ,结合系统特点及原故障诊断不足 ,通过合理选配测点将BIT(built intest)技术融合到该设备中 ,实现了系统主要信号的在线状态监测。并在此基础上研究开发了该系统的BIT系统软硬件。

摘要：文中根据系统模块间故障影响度和故障传播关系,基于模糊有向图,实现了系统级BIT设计的系统划分。划分时,不仅充分考虑了系统可测性设计要求和系统级BIT设计特点,还对故障概率、多故障模式、故障影响的传递性进行了分析和计算。实验结果表明,文中提出的方法优于其它方法。