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CAM 350在版图优化中的应用
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《集成电路通讯》2008年 第2期26卷 26-31页
作者:李寿胜 贺彪中国兵器工业第214研究所蚌埠233042 
CAM 350在计算机辅助制造方面有非常实用的功能,特别是在某些已经用大型计算机辅助设计CAD软件(如PROTEL、CADENCE、AUTOCAD等)完成绘制的比较复杂的版图,在应用于工艺后发现仍需要进行局部优化或修改时,使用CAD软件修改将费时费力,并...
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多级台阶空腔LTCC一体化BGA封装外壳的试制
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《集成电路通讯》2013年 第4期31卷 32-36页
作者:何中伟 李寿胜 杜松北方通用电子集团有限公司微电子部苏州215163 
为适应封装超多引出端(400线)的高密度复杂MCM及超大尺寸VLSI芯片的需要,设计并试制了一种30层生瓷、5级台阶空腔LTCC基板的一体化BGA封装外壳,外形尺寸32mm×32mm×5.7mm,400个BGA焊球引出端,直径0.76mm,节距1.5mm&#...
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多层空腔BGA封装外壳结构设计及制作
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《集成电路通讯》2010年 第3期 23-27页
作者:李寿胜 褚志斌中国兵器工业第214研究所蚌埠233042 
介绍了一种正面为大面积多层空腔、背面为BGA端子输出的LTCC(低温共烧陶瓷)陶瓷封装外壳制作技术,它有效结合了LTCC基板制造技术、大面积多层空腔制作及BGA封装技术,为实现LTCC通用封装外壳工艺制作提供了一种新的思路和方法。
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微电路耐高过载技术研究和发展浅述
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《集成电路通讯》2016年 第4期34卷 28-32页
作者:夏俊生 肖雷 李寿胜中国兵器工业第214所蚌埠233030 
耐高过载技术研究主要有两个重要方向,其一是产品对象的外在耐高过载加固和缓冲防护技术,其二是器件自身的结构、工艺和材料技术。影响基板自身抗过载水平的主要因素包括基体材料、基板尺寸和结构等。为保证元件具有足够的粘接强度来...
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