摘要：集成电路芯片在高密度、小型化发展过程中产生了电磁兼容问题,为强化集成电路芯片对瞬态干扰信号的应对防护效果,可结合传输线脉冲(TLP)测试构建分段线性模型。文章首先对芯片应对瞬态干扰信号展开防护设计的现实需求进行分析,以CD4001BE芯片为例提出芯片TLP测试分段线性建模方式,总结瞬态电压抑制TVS二极管建模方法,并进一步展开芯片分段线性模型协同防护设计分析,旨为借助分段线性模型的方式控制芯片防护的设计时间与成本。

摘要：微电子器件已经广泛应用于航空航天等多个领域中,发挥着重要作用。随着芯片技术的升级,集成电路不断缩小尺寸,系统级芯片(SoC)已经得到广泛应用,且对于SoC芯片需求量逐渐增多。基于此,文章通过分析SoC芯片结构,进一步研究可测试性设计,以阐述测试性能控制方法,实现性能和效率的优化。在测试中利用芯片功能模块接口和外部端口存在的映射关系,通过锁存器和JTAG进行控制。通过可测试性设计能够缩短测试时间,降低测试成本,支持芯片质量和成本效益的提高。

摘要：以国家８６３计划—诸暨电动工具厂ＺＪ－ＣＩＭＳ项目为例，对在ＣＩＭＳ环境下的质量保证系统的特点、功能、系统的组成等方面进行论述，对质量保证系统中的产品微机在线检测系统进行较为详细的介绍。

摘要：介绍了电动工具产品微机在线检测系统的组成及软件设计。对在强干扰源中工作的检测系统所遇问题，提出了解决抗干扰问题的思路和措施，并在实践中得到解决。