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检索条件"作者=杨家铿"
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晶体管非工作期失效机理及可靠性预计
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《电子产品可靠性与环境试验》1994年 第1期12卷 15-22页
作者:杨家铿电子部五所 
本文较全面地分析了影响晶体管非工作期可靠性的主要因素及其失效机理。进而,在广泛收集现场与试验可靠性数据的基础上建立了我国晶体管在非工作状态下的失效率预计模型。经实践验证,表明该模型的预计效果良好。同时还提供了我国晶体管...
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武器装备的全寿命周期可靠性预计
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《电子产品可靠性与环境试验》2002年 第6期20卷 37-40页
作者:杨家铿信息产业部电子第五研究所广东广州510610 
阐述了周全地考虑武器装备寿命周期可靠性的必要性,给出了全寿命周期可靠性预计方法和模型。以某机载武器为例,预计其全寿命周期可靠性,并分析、改进了原设计方案,使其满足规定的可靠性指标。
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电子产品可靠性预计和分配工作的必要性及效果分析
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《电子质量》2000年 第3期 38-40,45页
作者:莫郁薇 杨家铿信息产业部电子五所数据中心 信息产业部电子五所 
本文阐述了对电子产品开展可靠性预计与分配工作的重要性,介绍了国际上通过可靠性预计提高武器装备可靠性的成功经验,并剖析了我国目前的可靠性预计工作的现状。
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