摘要：考虑激光跟踪仪的光电瞄准与定位直接影响仪器的整体测量精度和使用性能,讨论了激光跟踪仪的光电瞄准和跟踪定位控制技术并提出了光电探测瞄准、信号调理采集、数字处理及智能跟踪伺服的系统整体技术方案。对系统关键部件进行选型,利用角锥棱镜和位敏探测器(PSD)作为光电探测核心,设计了探测光路和信号处理电路。研制了系统样机,搭建了目标位移量标准测试平台,对样机光电瞄准系统探测信号进行了测试。测试结果显示:采用该设计方案设计的激光跟踪仪样机的静态定位测量精度达到6μm,随机动态跟踪测量速度大于1m/s。结果表明:提出的方法可解决激光跟踪仪定位精度低、动态跟踪效果差等常见问题,可为研制高精度、大范围、大尺寸测量仪器提供技术参考。

摘要：针对HIC998(3)T型IC卡电话机采用矩阵式键盘接口在"3C"认证测试中出现电磁干扰(EMI)超标的问题,设计出智能化键盘进行升级改造,新键盘采用单口线A/D转换式键盘布局和I2C接口通讯的方案。通过对比实验测试证明该方案性能明显改善,且实现模块化标准电路后易于推广应用。

摘要：针对大型装备智能制造中的机器人在线位姿激光跟踪测量与实时引导需求,提出了一种机器人坐标系与激光测量坐标系标定转换和解算方法。设计了基于距离原则的机器人末端光学工具中心点TCP(Tool Center Point)位置标定算法。通过运用空间点坐标重心化配置算法和基于罗德里格矩阵变换的最小二乘优化算法解算出了具有单位正交性的位姿变换旋转矩阵。进行了机器人坐标系位姿变换激光测量标定和优化对比实验,旋转矩阵初值和正交优化值进行点坐标转换后的综合RMSE分别为0.579 0mm和0.501 5mm。结果表明该方法能够有效改进姿态旋转矩阵正交性,并提高位姿变换解算精度。

摘要：针对机械臂全工作空间域位姿误差估算,提出了非参数化约束的运动学误差综合解算与动态估算方法。基于误差等效微分变量和多关节运动的连杆坐标系误差等效微分变换,构建了机械臂运动学动态非参数化约束的位姿误差模型。将多因素产生末端位姿误差归结为与关节转角变量有关的周期性动态函数变化,实现了机械臂综合误差的动态函数化描述。根据多连杆坐标系关节运动耦合规律,设计了多关节运动空间坐标系位姿在线解耦变换与补偿算法。全工作空间域验证实验中,误差估算值与测量值之间的位置坐标的最大绝对值偏差小于0.01 mm,姿态角的最大绝对值偏差小于0.03°。实验结果表明,该方法可提高机械臂全工作空间域位姿误差估算的精度与可靠性。

摘要：基于激光跟踪仪对绝对测距的技术要求,叙述了系统的测量原理,设计了激光相位法测距的激光跟踪仪ADM单元。阐述了基于混频、外差探测和相位测量的差频鉴相式激光测距系统总体设计方案和相关技术,构建了信号发射和接收测量总体系统构架,对信号模块、硬件电路实现和器件选用做了具体描述。进行了系统调试及相关测量实验,结果表明该激光绝对测距单元达到了仪器整体设计指标要求。

摘要：针对激光跟踪仪光电跟踪伺服控制系统高精度、快速、实时等使用性能要求,分析了光电跟踪伺服系统的结构方案与功能组成,提出了电流、速度和位置"三环反馈+模糊校正"的控制结构,设计了模糊PID控制算法,进行了电机、伺服器、圆光栅、DSP等关键部件选型设计。经过实际样机跟踪性能测试,随机动态跟踪性能良好,系统测试最大角加速度超过200°/s2,跟踪角速度达到40°/s,跟踪仪速度闭环带宽≥23 Hz。测试结果表明,系统动态跟踪性能达到设计指标要求。

摘要：基于组态控制软件设计了一种沥青搅拌站的控制系统,该系统应用先进的计算机控制技术、PLC控制技术、变频调速技术、精确称量技术,以工控机组态作为上位机进行监控,触摸屏作为人机操作界面。分析了搅拌站的工艺流程及控制系统的功能,建立了控制系统组成结构,研究了系统硬件设计和软件设计中的主要要求及实现方法。在实际应用中稳定可靠,配比精度高,操作简便、直观,取得了很好的效果。

摘要：光电瞄准与定位技术是空间运动目标动态跟踪测量的关键技术,起到目标捕获与运动位置偏差精确指向作用。基于光电位置传感器(PSD)对激光跟踪仪的光电瞄准和跟踪定位控制技术进行了分析研究与设计,提出了光电瞄准控制方案,设计了探测光路,分析了PSD误差修正与信号处理。经过实际样机测试,静态定位测量精度达到6μm,随机动态跟踪测量速度大于1 m/s。

摘要：针对当前沥青混凝土搅拌站的生产工艺和技术,开发了基于现场总线的分布式计算机控制系统,基于迭代自学习控制方法设计了系统的补偿量学习算法,给出了算法程序控制过程。采用补偿迭代自学习算法,提高了测量与控制的精确度,减少了传送误差。通过提高生产配料精度,降低了废料率,对筑路机械的国产化智能控制系统开发具有重要意义。

摘要：窄带滤光片是应用于光谱学、激光、天文物理学、通信等各个领域的光学组件,精确控制每一层膜厚是制备滤光片的困难所在.采用光学极值法直接监控工件,可以同时制备多件滤光片.设计了监控光路和信号获得电路,通过探测到的测试信号,监控薄膜膜厚,实现了直接监控.