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非晶RGM薄膜应力的基片曲率显微测定方法研究
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《稀土》2007年 第4期28卷 38-42页
作者：周白杨 林庆彬 邓光华福州大学材料科学与工程学院福建福州350002 
利用基片曲率法原理,设计改装了一套基片曲率显微观测装置用于测量稀土超磁致伸缩合金非晶RGMF薄膜试样的曲率半径并计算薄膜应力;分析探讨了使用该装置测量计算曲率半径的随机误差与系统误差,并在此基础上进一步分析了薄膜应力的相对...
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