摘要：文中提出了一般用户从结构角度对微机处理机进行功能测试的实用方法。用户把从手册等资料中收集到的信息绘制出一个测试用的逻辑结构功能框图,该框图以运算部件为中心,标出了主要部件和数据通道。测试根据这个框图来进行,基本故障模型为单个可检测的s.a.0(1)。如果实践认为确有必要,在局部范围内可扩大该故障模型。

摘要：文中主要探讨全通路图法推广运用于MOS电路时要考虑的一些特点。采用的故障模型是逻辑线的固定断路故障和通路故障,stuck-open(on)和s.a.o(1)故障仅是它的子集,它代表了实际使用中出现的大多数故障。由于“糖葫芦串”式的通路图和MOS电路基本上是一一对应的关系,所以在开关级形成测试其计算复杂性不会比门级高。这一点更突出体现在CMOS中。由于全通路图法可以用于它,所以该法过去已有的结论基本上全可用。这样,还可以考虑检测多故障的问题。

摘要：逻辑验证自身的特点为: (1)逻辑验证是针对设计的; (2)利用它可以充分设计有关的文件、资料, 特别是它知道验证的对象及其细节; (3)验证可以深入到设计内部, 可以分而治之.

摘要：测试码生成简述中国科学院计算所ＣＡＤ开放实验室梁业伟北京计算机学院一、测试基本概念数字电路的测试有电性能测试和逻辑测试。逻辑测试的目的是检查电路的逻辑性能是否完好，是否存在逻辑故障。逻辑性能不完好，有错误，则说明存在逻辑故障。这里谈的是逻辑性能，不是...