摘要：光栅尺作为位移传感元件被广泛应用在光学精密测量机器和高精度的数控机床上。介绍一种采用FPGA的光栅尺位移测量仪的设计方法,通过FPGA对2个光栅传感器输出的信号分别进行细分辨向和计数,再使用ARM LPC2132对计数信号进行处理,能可靠对x-y工作台在x和y方向上的位移分别进行测量。该仪器的分辨率为0.5μm,精度可优于±1μm。此外,所研制的位移测量仪工作可靠,结构简单,易于调试和扩展。

摘要：为了制作大尺寸激光防伪商标,开发了高速激光点阵光刻机。该光刻机以工控机为上位机,ARM LPC2138和单片机STC12C5401AD为下位机,采用直线电机直接驱动X-Y工作台,实现了高速高精度定位。

摘要：为了生产大尺寸的激光防伪包装材料,开发了高速激光制版机。该设备动态曝光的工作方式,克服了影响工作台定位精度的多种因素。以工控机为上位机,以运动控制器PMAC和单片机STC12C5410AD为下位机,结合直线电机技术,实现了高速高精度定位。工作速度提高了10倍以上,有效提高了全息母板制作的效率。

摘要：为减小10kV配电网投切无功补偿电容器组时所产生的开关暂态过电压对电力设备造成的危害,设计了一种基于DSP的采用同步技术投切无功补偿电容器组的控制装置。该装置以数字信号处理器(DSP)TMS320LF2812为核心,对交流电压、电流同步采样,实时提取三相电压、电流的零点,控制同步真空断路器实现补偿电容器组在电压过零时投入,在电流过零时切除,有效减小投切电容器组时所引起的涌流和过电压,弥补了传统无功补偿装置存在的不足。

摘要：由于光栅尺本身结构上的原因,采用单一光栅尺难以实现高速高精度的微纳米测量。设计一种基于双光栅尺的高速高精度位移测量仪,通过可编程逻辑器件FPGA对粗、精光栅尺信号进行切换与合成,实现了高速高分辨率的位移测量。实验结果表明:在光栅尺运动速度大于1.2 m/s时,采用此方法可达到10 nm分辨率。它在高速高精度和大量程的直线位移测量领域具有广泛的应用前景。

摘要：为了制作大尺寸的激光防伪商标,开发了高速激光点阵光刻机。该光刻机以工业控制计算机为上位机,以ARMLPC2138和单片机STC12C5410AD为下位机,采用直线电机直接驱动X-Y工作台,实现了高速高精度定位。动态曝光的工作方式,克服了传统光刻机工作速度慢的静态曝光工作模式,使光刻工作速度提高了10～12倍,解决了大尺寸防伪商标制作困难的问题,有效提高了全息母板制作的效率。

摘要：真空断路器的性能对输配电线路的安全运行起着重要作用,而真空断路器的性能由它的主要技术参数决定。采用ARMLPC2132实现的真空断路器测试系统能对真空断路器的主要技术指标进行测试,测量结果通过计算机进行显示。该测试系统可用于真空断路器调试生产线,并根据测量结果对真空断路器的工作状态进行调整,从而提高真空断路器的性能。

摘要：介绍了一种基于1T单片机与HCTL-2022构成的正交解码接口电路,他通过硬件电路对正交脉冲信号进行辨向和计数,由单片机对计数信号进行处理,能够动态地测量直线位移、旋转角度。该设计结构简单,工作可靠,制作成本低,通用性强,与PC机通信方便。

摘要：为了提高测量漏电保护器漏电动作特性参数的准确性,减少测量时间,实现漏电保护器的在线和非在线检测,设计了一种手持式漏电保护器测试仪。该测试仪采用ATmega32作为控制与数据处理核心,能自动对漏电保护器特性参数进行测试,既能检测非在线运行的漏电保护器,又能检测在线运行的漏电保护器,为漏电保护器的性能研究、质量检验及漏电保护技术的应用提供了有效手段。

摘要：为了提高激光全息防伪技术,开发了以工业控制计算机为上位机、DSP TMS320F2812为下位机的高速光刻机.该光刻机采用动态曝光的工作方式,实现了高速高精度定位.解决了传统光刻机需要在静止的状态下完成曝光的工作模式,使光刻速度提高了20 ～ 30倍,提高了激光防伪商标母板制作的技术水平.