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大量程引伸计校准装置
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《上海计量测试》2017年 第4期44卷 36-38页
作者:胡潇寅 康张宜 虞跃凌 汤亚杰上海市计量测试技术研究院 
利用磁栅尺与数字图像技术相结合的方式,开发了一种针对大量程引伸计的校准装置。将所设计的校准装置与Renishaw公司的XL-80激光干涉仪同时对一台大量程引伸计进行校准。实验结果表明,所设计的大量程引伸计校准装置在25~500 mm测量范围...
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