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计算芯片(MCU)测试台架方案设计与试验验证: 收藏
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引用; 《计量与测试技术》2024年第9期51卷 65-67页; 作者：刘廷娇葛俊良陈磊邵旭东沙暄晨梁艳艳上汽通用五菱汽车股份有限公司; 目的:为了解决计算芯片(MCU)应用前期,需针对每一款分别设计对应的开发板、进行外设的功能驱动测试、不具备通用性、制作PCB板周期长等问题。方法:设计一种标准模块化测试台架,并对通讯和外设进行实验验证。结论:该台架整体功满足设计要...; 目的:为了解决计算芯片(MCU)应用前期,需针对每一款分别设计对应的开发板、进行外设的功能驱动测试、不具备通用性、制作PCB板周期长等问题。方法:设计一种标准模块化测试台架,并对通讯和外设进行实验验证。结论:该台架整体功满足设计要求,适应于所有相同封装的MCU,可为其测试提供一种可行方案。; 来源：详细信息评论

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