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低介电常数材料研究及进展
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《化工生产与技术》2020年 第2期26卷 21-25,32,I0002,I0003页
作者:王海 程文海 周涛涛 王凌振 蒋梁疏浙江凯圣氟化学有限公司浙江衢州324004 
叙述了集成电路制造技术的发展及低介电常数(κ)金属介电层的研究背景,回顾了传统SiO2作为金属介电层所面临的问题,低κ材料取代传统SiO2介电材料是解决上述问题的有效方法。分析了低κ材料的性能要求,论述了改性SiO2基介电材料、氟化...
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基于绝缘体上硅的颅内压力传感器的设计与制作
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《厦门大学学报(自然科学版)》2023年 第4期62卷 517-524页
作者:钟长志 王凌 刘路江 谷丹丹厦门大学航空航天学院福建厦门361102 厦门大学萨本栋微米纳米科学技术研究院福建厦门361102 
基于当前医疗领域对颅内压(intracranial pressure,ICP)测量的迫切需要,设计并制造了一款量程为-10~50 kPa的绝缘体上硅(silicon-on-insulator,SOI)压阻式压力传感器.根据硅的压阻效应原理和小挠度变形理论,完成了传感器的整体结构设计...
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