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片状钽电容器失效分析
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《电子元件与材料》2004年 第3期23卷 3-6页
作者：刘家欣 肖大雏 王宾如武汉大学自动化系湖北武汉430072 
针对钽电容在实际使用中失效率过高的问题,从电路设计和制造工艺两个方面分析导致钽电容器失效的原因,并根据分析的结果给出相应的预防钽电容器失效的具体措施。
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