摘要：由于导弹武器电子产品种类繁多、组成复杂,贮存寿命加速退化试验方案设计难度较大,针对该问题提出了通过对薄弱环节进行加速寿命试验推出导弹武器电子产品贮存寿命的方法,以弹上某电子部件为例,选用Arrhenius模型加速模型,开展贮存寿命加速退化试验方案设计,试验结果表明:在置信度为0.7、可靠度为0.95的条件下,在试验温度分别为75℃、80℃、85℃时,试验时间分别约为184天、126天、88天。该方法为今后导弹武器电子产品开展贮存寿命加速退化试验提供了一种思路。

摘要：信号处理电路是一种传统的数字电路,其电路抗扰能力是薄弱点。本文通过典型案例,从信号处理电路的传导抗扰测试试验入手,利用仿真软件针对信号处理电路进行电磁兼容分析及电路设计改进,取得了良好效果,供电路设计人员及可靠性仿真人员参考。