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基于x切薄膜铌酸锂平台的TM模弯曲波导(特邀): 收藏
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引用; 《激光与光电子学进展》2024年第11期61卷 186-191页; 作者：高天甘然丰陈斌余嘉扬刘洁郭昌建陈楷旋刘柳华南师范大学华南先进光电子研究院广东广州510631 浙江大学光电科学与工程学院浙江杭州310058 中山大学电子与信息工程学院广东广州510275; 由于x切薄膜铌酸锂光集成平台的各向异性,光波导TM模在弯曲过程中容易发生模式杂化并耦合到其他模式,对TM模的弯曲构成了挑战。以400 nm厚、半刻蚀的铌酸锂波导为例,分析了TM0模在不同波导宽度和传输方向下的模式杂化现象,并对其90°...; 由于x切薄膜铌酸锂光集成平台的各向异性,光波导TM模在弯曲过程中容易发生模式杂化并耦合到其他模式,对TM模的弯曲构成了挑战。以400 nm厚、半刻蚀的铌酸锂波导为例,分析了TM0模在不同波导宽度和传输方向下的模式杂化现象,并对其90°弯曲传输性能进行仿真。最终得出结论:在特定波导宽度区域(约1.7~2.15μm),TM0模在90°弯曲过程中不会与其他模式发生杂化;当波导宽度小于1.7μm(或大于2.15μm)时,TM0模会与TE1(或TE2)模发生耦合。该结论在实验中也得到了验证。本研究为薄膜铌酸锂波导TM模的弯曲提供了设计思路,可用于该平台偏振调控相关的光集成器件。; 来源：详细信息评论

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