摘要：目的:比较不同种类计算机辅助设计/辅助制作(computer aided design/manufacturing,CAD/CAM)修复材料抛光后表面粗糙度值(Ra值)与光泽度值的差异,测定适宜的抛光时间,为操作者抛光椅旁可切削修复体提供参考。方法:选择5种不同种类CAD/CAM修复材料长石瓷(vita markⅡ,VM)、弹性瓷(vita enamic,VE)、优韧瓷(lava ulimate,LU)、复合树脂A(shofu block HC,SB)和复合树脂B(brilliant crios,BC),每种材料制备6个试样,共30个试样。将试样固定于自制抛光装置,使用Sof-Lex抛光碟系统中的中碟(medium disk,M碟,磨粒粒径10~40μm)、细碟(fine disk,F碟,磨粒粒径3~9μm)和超细碟(superfine disk,SF碟,磨粒粒径1~7μm)依次对试样进行序列抛光。试样每抛光10 s测量一次Ra值及光泽度值,数值不再变化时更换下一级抛光碟,每个抛光碟仅使用一次。更换下一级抛光碟的同时记录试样的Ra值、光泽度值以及抛光时间,实验完成后用SPSS 24.0软件进行统计学分析。结果:序列抛光后所有材料Ra值较抛光前显著降低(P0.05),而LU的光泽度值[(68.1±4.5)GU]与SB的光泽度值[(68.2±5.8)GU]显著高于VE[(48.1±8.1)GU]与BC[(53.2±5.8)GU],P<0.05。达到最佳Ra值和光泽度值,VM[40(30,55)s]所需总抛光时间最短,VE[140(135,145)s]、LU[130(120,140)s]、SB[140(130,150)s]与BC[130(120,140)s]的抛光时间差异无统计学意义。结论:所有CAD/CAM修复材料经Sof-Lex抛光碟系统序列抛光后均能显著降低表面粗糙度值和提高光泽度值;不同材料达到最佳表面粗糙度和光泽度所需的抛光时间不同;推荐使用Sof-Lex系统抛光时,对于长石瓷,仅用M碟抛光40 s即可。对于弹性瓷、优韧瓷、复合树脂A与复合树脂B,要序列使用M碟、F碟和SF碟抛光,总体抛光时间约130~140 s。