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片上存储器单粒子翻转效应诊断及修复
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《核电子学与探测技术》2017年 第2期37卷 138-141页
作者：杨卫涛 贺朝会 杜雪成 申帅帅西安交通大学西安710049 
研究了Zynq-7000片上存储器(OCM)的单粒子翻转效应(SEU),进行了SEU的诊断设计,可以及时诊断出OCM中发生SEU的具体位置以及具体数据位,能够实现对发生于OCM中的单位翻转和多位翻转诊断;进行了SEU修复的设计,可以准确地修复OCM中发生的SE...
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