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基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法: 收藏
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引用; 《电子与封装》2023年第11期23卷 18-24页; 作者：解维坤白月芃季伟伟王厚军电子科技大学自动化学院成都610097 中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 电子科技大学深圳高等研究院深圳518110; 随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,...; 随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,改进算法比March-like算法的故障覆盖率提高了16.7%,测试时间减少了30%。完成存储器内建自测试(MBIST)电路设计,设计了FPGA最小系统板并进行板级验证,结果验证了MBIST电路以及改进的测试算法的可行性。; 来源：详细信息评论

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