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CCD抗晕结构的设计和制作
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《半导体光电》2011年 第3期32卷 313-316页
作者:钟四成 程顺昌 王晓强重庆光电技术研究所重庆400060 
强光照射时,CCD图像传感器摄取的图像中会出现光晕(blooming)和弥散(smear)现象,严重影响成像质量。文章介绍了一种能够抑制这些光晕现象的抗晕CCD,详细阐述了其抗晕结构的设计和制作方法,采用该方法制作的CCD能够达到500倍的抗晕能力。
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有限元分析在CCD制冷封装设计中的应用
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《半导体光电》2015年 第4期36卷 588-591页
作者:程顺昌 朱虹姣 陈于伟 谷顺虎重庆光电技术研究所重庆400060 中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060 
采用有限元分析方法对制冷封装CCD工作在低温时光窗外表面温度过低产生露珠的现象进行了研究,分析了光窗与芯片表面(冷端)不同距离时光窗的最低温度以及内部填充不同气体时光窗的最低温度。通过有限元分析得到了光窗不产生露珠时的最优...
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试验设计方法在超声楔形焊工艺优化中的应用
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《半导体光电》2013年 第6期34卷 987-989页
作者:程顺昌 王晓强 吕玉冰 谷顺虎重庆光电技术研究所重庆400060 
采用实验设计方法对超声楔形焊引线键合工艺进行实验设计,研究了超声功率、键合压力和键合时间对键合强度的影响,得到了拟合程度好的统计模型和优化后的超声楔形焊工艺参数。在最优的工艺条件下,键合质量得到了提高。
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硅基紫外增强型光电二极管的研制
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《集成电路应用》2021年 第3期38卷 1-3页
作者:黄烈云 程顺昌 刘钟远 向荣珍 龙雨霞 任利平重庆光电技术研究所重庆400060 
详细介绍了器件结构设计和制作工艺,描述了采用低能离子注入、高温快速热处理等工艺技术,研制出高性能硅基紫外增强型PIN光电二极管。对器件暗电流和光谱特性等进行了测试分析。实验结果表明,探测器暗电流小于1.0nA(V_(R)=100V),响应度...
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