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功率型发光二极管的寿命与失效分析
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《半导体光电》2011年 第3期32卷 331-335页
作者：钱可元 刘洪涛 纪春绍清华大学深圳研究生院半导体照明实验室广东深圳518055 上海飞机设计研究院上海200235 山东省肿瘤医院济南250001 
可靠性是影响发光二极管应用的一个重要因素。对1 W大功率发光二极管分批在不同电流及不同结温下进行试验,分析了电流和结温对功率型发光二极管寿命的影响,应用应力加速模型推测在不同电流或结温条件下发光二极管的寿命,同时研究了试验...
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